廠家供應(yīng)蒸汽老化試驗(yàn)箱

產(chǎn)品名稱：蒸汽老化試驗(yàn)箱

產(chǎn)品型號(hào)：CX-ZQ-34

產(chǎn)品用途：
1.半導(dǎo)體IC、電晶體、二級(jí)體、液晶LCD、晶片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)；
2.電子零組件金屬接腳粘錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：半導(dǎo)體，被動(dòng)元件，零件接腳氧化試驗(yàn)微電腦溫度控制器P.ID+P.W.M+S.S.R.控制LED數(shù)字顯示 ；
1.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1℃；
2.蒸汽試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)設(shè)定控制/蒸汽試驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)記時(shí)時(shí)間設(shè)定控制；
3.內(nèi)箱不銹鋼材質(zhì)SUS#316 全氬焊熔接與外箱SUS#316 材質(zhì)全自動(dòng)安全保護(hù)裝置；
4.蒸汽用水?dāng)嗨辗俦Ｗo(hù)裝置（鐵弗龍涂裝）；
5.可擴(kuò)充預(yù)約開機(jī)時(shí)間控制裝置/純水RO 逆滲透自動(dòng)供水裝置。

廠家供應(yīng)蒸汽老化試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)箱尺寸(W×H×D)㎜：430×105×300

抽屜尺寸(W×H×D)㎜：100×50×300
外箱尺寸(W×H×D)㎜：730×550×520
蒸汽溫度:RT+10℃→98℃

溫度表顯示：蒸汽溫度

濕度范圍：95%RH以上
控制方式: PID控制器加熱+SSR輸出
升溫時(shí)間: 約50分鐘

控制精度:±0.5℃

溫度偏差：±2℃

溫度波動(dòng)度：±1℃

均勻度：±1℃
計(jì)時(shí): 1s~9999h

電源：220V 功率 1.5KW

內(nèi)、外箱體材質(zhì)：SUS304＃不銹鋼

抽屜拉手：采用一級(jí)材料電木棒，可防止操作人員接觸燙傷。

水位控制：附水箱自動(dòng)補(bǔ)水。

故障報(bào)警：故障指示燈（error)

工作中狀態(tài)：運(yùn)行指示燈（run)

三、測(cè)試性質(zhì)：

10℃法則：

討論產(chǎn)品壽命時(shí)，一般采用[θ10℃法則]的表達(dá)方式，簡(jiǎn)單的說明可以表達(dá)為[10℃規(guī)則]，當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10℃時(shí)，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃時(shí)，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一。
這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命(失效)的，相反的產(chǎn)品的可靠度試驗(yàn)時(shí)，也可以利用升高環(huán)境溫度來加速失效現(xiàn)象發(fā)生，進(jìn)行各種加速壽命老化試驗(yàn)。

蒸汽所引起的故障原因：水汽滲入、聚合物材料解聚、聚合物結(jié)合能力下降、腐蝕、空洞、線焊點(diǎn)脫開、引線間漏電、芯片與芯片粘片層脫開、焊盤腐蝕、金屬化或引線間短路。